1、引言
    1.1目的
    用以確定元件和材料在低氣壓下耐電擊穿的能力；確定密封元件耐受壓力差不破壞的能力；檢驗元件工作特性在低氣壓下受到的影響及低氣壓下的其它效應(yīng)；有時候可用于確定機電元件的耐久性。
    1.2應(yīng)用
    本標(biāo)準(zhǔn)是常溫條件下的低氣壓試驗。若裝置元件的設(shè)備將在低溫低氣壓及高溫低氣壓的綜合條件下貯存和使用，而且能夠斷定高低溫和壓力的綜合作用是造成其失效的主要原因，常溫低氣壓試驗不能使用時，則應(yīng)進行溫度一壓力綜合環(huán)境試驗。
    2、試驗條件
    2.1試驗壓力
    有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)從下表中選取試驗壓力等級。

    

    2.2壓力容差
    按GJB360.1-87《電子及電氣元件試驗方法總則》中 4.4條C的規(guī)定。
    2.3試驗時間
    若無其它規(guī)定，試驗樣品在低氣壓條件下的試驗時間，可從下列數(shù)值中選取:
    3、對試驗設(shè)備的要求
    3.1高低溫低氣壓試驗箱應(yīng)滿足第2章規(guī)定的試驗條件。
    3.2高低溫低氣壓試驗箱應(yīng)有觀察窗和接線柱，以便觀察和測量電性能。
    3.3高低溫低氣壓試驗箱應(yīng)有壓力指示器，以便測量箱內(nèi)壓力。
    3.4 應(yīng)注意避免試驗箱的輔助裝置，如泵的工作液蒸氣及試驗箱附件（閥、絕緣物）釋放的蒸氣產(chǎn)生污染。壓力恢復(fù)正常時，應(yīng)注意避免空氣帶入灰塵或水氣污染試驗樣品。
    4、試驗程序
    4.1 預(yù)處理
    試驗樣品應(yīng)在試驗的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下至少保持20min或按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。
    4.2初始檢測
    按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對試驗樣品進行外觀檢查、電性能和機械性能檢測。
    4.3試驗
    4.3.1對試驗期間不要求檢測性能的試驗樣品，應(yīng)在不包裝、不通電和“準(zhǔn)備使用”狀態(tài)按其正常工作位置放入具有試驗的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件的高低溫低氣壓試驗箱內(nèi)；對于試驗期間要求檢測性能的試驗樣品，應(yīng)接好電負(fù)載及其它測試儀表。并且進行檢查，以確定試驗樣品是否具有有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的性能。然后，按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的時間接通或關(guān)閉電源。
    4.3.2若無其它規(guī)定，以不大于10kPa/min的降壓速率將試驗箱內(nèi)壓力降到有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的值。
    4.3.3在此壓力下保持有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的時間。
    4.3.4若需要，按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定進行中間檢測。
    4.3.5若無其它規(guī)定，以不大于10kPa/min的升壓速率使高低溫低氣壓試驗箱內(nèi)壓力恢復(fù)到正常值。
    4.4 恢復(fù)
    若無其它規(guī)定，試驗樣品應(yīng)在試驗的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下保持1~2h。
    4.5后檢測
    按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，對試驗樣品進行外觀檢查、電性能和機械性能檢測。
    5、失效判據(jù)
    由有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。
    6、采用本標(biāo)準(zhǔn)時應(yīng)規(guī)定的細(xì)則
    a.試驗壓力等級代號（見2.1條）；
    b.試驗時間（見2.3條）；
    c.預(yù)處理（見4.1條）；
    d.初始檢測（見4.2條）；
    e.安裝方式和試驗樣品狀態(tài)（見4.3. 1款）；
    f.低氣壓條件下進行中間檢測時所需的條件、其它參數(shù)（如試驗電壓、加電壓時間）和檢測項目（見4.3. 1款）；
    g. 后檢測（見4.5條）；
    h.失效判據(jù)（見第5章）。