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          1. 瑞凱為30+行業(yè)提供產品性能測試解決方案

            電子元器件壓力蒸煮試驗

            一、工作原理:

            將被試元器件放入密封高壓加速老化試驗箱,試驗箱中加入幾個大氣壓的蒸汽強迫濕氣進入元器件的封裝層中,以此來評價元器件的防潮性能,使用這種方法與恒溫、恒濕試樣方法相比較,能在短得的多的時間內對元器件性能作出評價,使元器件的防潮性能在研制階段便可清楚。

            二、主要用途:

            采用加速方式來檢驗器件耐濕、耐熱的能力及可靠性水平。

            三、試驗儀器:

            R-HAST-350高壓加速老化試驗箱(121℃0. 215Mpa)TVR6000 綜測儀

            四、操作規(guī)范:

            4.1要嚴格按照R-HAST-350高壓加速老化試驗箱“技術說明書”操作順序操作。

            4.2常規(guī)產品規(guī)定每季度做一次周期試驗,試驗條件及判據采用或等效采用產品標準;新產品、新工藝、用戶特殊要求產品等按計劃進行。

            4.3采用LTPD的抽樣方法,在次試驗不合格時,可采用追加樣品抽樣方法或采用篩選方法重新抽樣,但無論何種方法只能重新抽樣或追加一次。

            4.4LTPD=10%,則抽22只,0 1退,追加抽樣為38只,1 2退。抽樣必須在0QC檢驗合格成品中抽取。

            五、環(huán)境條件

            (1)標準狀態(tài)

            標準狀態(tài)是指預處理,后續(xù)處理及試驗中的環(huán)境條件。論述如下: .

            環(huán)境溫度: 15~35 

            相對濕度:  4575%

            (2)判定狀態(tài)

            判定狀態(tài)是指初測及終測時的環(huán)境條件。論述如下:

            環(huán)境溫度:  25±3

            相對濕度:  4575%

            六、試驗條件及判據:


            蒸煮試驗

            七、注意事項:

            ①每次做試驗合上槽蓋以前(特別是在循環(huán)做試驗情況下),務必檢查槽內水量;
            ②務必保持槽內清潔,經常去除槽內污物;
            ③此試驗臺時間設定較短,務必注意時間的再設定。 

            八、高壓加速老化試驗箱簡介:

            HAST高壓加速老化試驗箱是使用在加壓和溫度受控的環(huán)境中施加過熱蒸汽的非冷凝(不飽和方法),將外部保護材料、密封劑或外部材料和導體之間通過加速水分滲透的作用進行試驗;一般是在設定的溫度和濕度條件下連續(xù)施加壓力來完成的。本設備廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關之產品作加速老化壽命試驗。

            HAST高壓加速老化試驗箱

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